IRMS8599B 将光投射到待测薄膜上，并根据来自正面的反射光和来自背面的反射光之间的干涉测量薄膜厚度。利用反射光谱中出现的波（干涉波）的数量随着膜厚的增加而增加的原理来测量膜厚。无需校准曲线，可进行高精度测量。

• FFT 分析和 CF（曲线拟合）分析可以通过连续光谱进行。
• 多可同时测量 4 层
• 工作温度0～50℃，IP65（防尘防滴结构）

型号列表

* 光纤、电缆和附件单独出售。

规格